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[科技新闻] 我国科学家突破纳米金属三维成像技术,实现晶界“透视”

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发表于 2026-4-27 08:25 | 显示全部楼层 |阅读模式

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“中科院之声”公众号今日发文称,近日,中国科学院金属研究所团队开发出暗场电子层析成像新方法 DFET-Nano,实现了对纳米金属晶界的三维“透视”。简单来说,这就像给纳米晶粒作 CT 扫描。

团队利用透射电子显微镜,从不同角度为纳米晶粒拍摄大量暗场像照片,然后通过复杂的重构算法,将二维图像合成为高精度的三维立体模型。目前,该技术的空间分辨率已经达到 0.3 纳米。



IT之家从文中获悉,这种方法不仅重建了晶粒的外形,还能同步解析其晶体学取向。也就是说,研究人员不仅能“看见”晶粒长什么样,还能知道每个晶粒的晶界结构特征,从而精确计算出晶界的晶面指数和曲率。这些直观的三维证据,首次在实验中验证了理论物理学家提出的“受限晶体结构”特征。

这项研究就像一把钥匙,打开了纳米材料“黑箱”。借助它,科学家能在三维空间中直接观察和测量晶界变化,从而更透彻地理解纳米金属稳定机制,为未来设计更高性能、更稳定的纳米材料提供了新的表征手段。
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发表于 2026-4-27 08:30 | 显示全部楼层
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发表于 2026-4-27 09:28 | 显示全部楼层
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发表于 2026-4-27 09:54 | 显示全部楼层
啥也不说了,楼主就是给力!
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发表于 2026-4-27 10:04 | 显示全部楼层
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发表于 2026-4-27 10:05 | 显示全部楼层
谢谢楼主分享!
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