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楼主: ress

[科技新闻] 清华团队攻克EUV光刻胶瓶颈,用聚碲氧烷实现18nm线宽新纪录,为下一代EUV光刻胶设计奠定框架

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  • 打卡等级:功行圆满
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发表于 2025-7-29 07:33 | 显示全部楼层
不明觉厉,加油中国🇨🇳
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  • 打卡等级:已臻大成
  • 打卡总天数:547
发表于 2025-7-29 10:03 | 显示全部楼层
谢谢楼主分享!
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